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Dettagli del prodotto
  • Moduli collaudati per il test Opens per il test capacitivo di chip semiconduttori alla ricerca di guasti, cortocircuiti e difetti di saldatura
  • Adatto ai sistemi di test Keysight (TestJet, VTEP), Teradyne (FrameScan) e Spea (Escan)
  • Montaggio semplice e veloce

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Dati tecnici